Notkun innrauðra smásjáa í örtækjum í rafeindaiðnaði
Með þróun nanótækninnar er hámarks-nálgun hennar í auknum mæli beitt á sviði hálfleiðaratækni. Við kölluðum IC tækni „microlectronics“ því stærð smára er á míkrómetra (10-6 metra) bilinu. En hálfleiðaratæknin þróast mjög hratt, fleygir fram um kynslóð á tveggja ára fresti og stærðin mun minnka niður í helming af upprunalegri stærð, sem er hið fræga lögmál Moore. Fyrir um það bil 15 árum fóru hálfleiðarar að komast inn á undirmíkron tímabilið, sem er minna en míkrómetrar, fylgt eftir af dýpra undir míkron tímabil, miklu minna en míkrómetrar. Árið 2001 hafði stærð smára jafnvel minnkað í minna en 0,1 míkrómetra, sem er minna en 100 nanómetrar. Þess vegna, á tímum nanórafeinda, verða flestir framtíðar ICs framleiddir með nanótækni.
Tæknilegar kröfur:
Sem stendur er aðalform bilunar í rafeindabúnaði hitabilun. Samkvæmt tölfræði eru 55% bilana í rafeindatækjum af völdum hitastigs sem fer yfir tilgreint gildi og bilanatíðni rafeindatækja eykst veldishraða með hækkandi hitastigi. Almennt séð er rekstraráreiðanleiki rafeindaíhluta mjög viðkvæmur fyrir hitastigi, með 5% lækkun á áreiðanleika fyrir hverja 1 gráðu hækkun á hitastigi tækisins á milli 70-80 gráður á Celsíus. Þess vegna er nauðsynlegt að greina hitastig tækisins fljótt og áreiðanlega. Vegna sífellt smærri stærðar hálfleiðaratækja hafa verið gerðar meiri kröfur til hitaupplausnar og staðbundinnar upplausnar skynjunarbúnaðar.
