Hvað er atómkraftssmásjá
Atomic Force Microscopy: Ný tilraunatækni sem notar samspilskrafta milli atóma og sameinda til að fylgjast með smásæjum á yfirborði hlutar. Það samanstendur af nanómetra-stærð rannsakanda sem er fest við sveigjanlegan míkronstærð sveigjanlegan sveigjanlegan styrk. Þegar rannsakandinn er mjög nálægt sýninu, valda kraftarnir á milli atómanna í oddinum og atómanna á yfirborði sýnisins að burðarþolið beygir sig frá upphaflegri stöðu sinni. Þrívídd mynd er endurgerð út frá magni fráviks eða tíðni titrings rannsakans þegar hann skannar sýnið. Óbeint er hægt að fá landslag eða atómsamsetningu sýnisyfirborðsins.
Það er notað til að rannsaka yfirborðsbyggingu og eiginleika efna með því að greina mjög veika víxlverkunarkrafta á milli yfirborðs sýnisins sem á að mæla og lítill kraftnæms frumefnis. Örhlífarpar, sem eru afar næm fyrir veikum kröftum, eru fest í annan endann og örlítill oddur á hinum endanum er færður nálægt sýninu sem síðan hefur víxlverkun við það og kraftarnir valda örstöngunum. að afmynda eða breyta hreyfistöðu þeirra.
Þegar sýnið er skannað greinir skynjarinn þessar breytingar og fær upplýsingar um dreifingu kraftanna og fær þannig upplýsingar um yfirborðsbygginguna með nanóskalaupplausn. Það samanstendur af örsnúningi með nálarodda, hreyfiskynjunarbúnaði með örbylgju, endurgjöfarlykkju til að fylgjast með hreyfingu þess, keramikskannabúnaði til að skanna sýnishornið og tölvustýrðu myndatöku-, skjá- og vinnslukerfi. Hægt er að greina hreyfingu örhlífar með rafmagnsaðferðum eins og straumskynjun í jarðgöngum eða sjónrænum aðferðum eins og sveigju geisla og víxlmælingum o.s.frv. Þegar nálaroddurinn og sýnishornið eru nægilega nálægt hvort öðru og gagnkvæm fráhrinding er á stuttum sviðum milli þá, fráhrindingu er hægt að greina til að fá yfirborð atómupplausnarstigs myndarinnar, og almennt upplausn nanómetrastigsins.AFM mælingar á sýnum hafa engar sérstakar kröfur, og er hægt að nota þær til að mæla yfirborð föstra efna. og aðsogskerfi.
